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年轮分析测量系统IN-NL,由平板扫描仪与配套年轮分析软件组成,适用于树木横截面树盘及生长锥获取的树芯样本。系统集图像采集、图像处理、测量路径设置、年轮及早晚材边界识别、人工交互校核、宽度统计与结果导出等功能于一体,获取有效年轮数、逐轮年轮宽度、早材宽度、晚材宽度及相关比例,并支持树盘···
型号:IN-NL
品牌:来因科技
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树木年轮分析测量仪IN-NL,由平板扫描仪与配套年轮分析软件组成,适用于树木横截面树盘及生长锥获取的树芯样本。系统集图像采集、图像处理、测量路径设置、年轮及早晚材边界识别、人工交互校核、宽度统计与结果导出等功能于一体,获取有效年轮数、逐轮年轮宽度、早材宽度、晚材宽度及相关比例,并支持树···
树木年轮分析仪IN-NL,由平板扫描仪与配套年轮分析软件组成,适用于树木横截面树盘及生长锥获取的树芯样本。系统集图像采集、图像处理、测量路径设置、年轮及早晚材边界识别、人工交互校核、宽度统计与结果导出等功能于一体,获取有效年轮数、逐轮年轮宽度、早材宽度、晚材宽度及相关比例,并支持树盘截···
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